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　　2017 年 4 月 12 日，飛納電鏡于蘇州金雞湖凱賓斯基大酒店舉行盛大的新品發(fā)布會，不僅發(fā)布并展出了三款創(chuàng)新產品，而且還帶來了臺式掃描電鏡的全新概念。會上，飛納電鏡產品 Jos Mass 介紹了公司發(fā)展歷程、理念，詳細介紹了新產品并回答客戶提問。
 

　　Phenom-World(飛納世界)是一家源于世界掃描電鏡制造商美國 FEI 的公司，2009 年,荷蘭 Phenom-World 公司成立。2012 年飛納電鏡研發(fā)出世界*電鏡能譜一體機，開創(chuàng)電鏡能譜設計新理念。在接下來的幾年中，飛納電鏡加速創(chuàng)新，產品不斷更新換代，功能更加強大。
 

　　Jos Maas 介紹說：“十年前我們開始研制臺式電鏡，那個時候, 臺式電鏡真的是很簡單的掃描電鏡(SEM)。十年過去了，臺式電鏡已經有了很大突破與創(chuàng)新，現在已經變得很成熟了，我們現在可以想象，如果不再用臺式掃描電鏡，我們的掃描電鏡工作該如何進行。臺式掃描電鏡在今天已經變成了一個全新的概念。”
 

飛納電鏡新品發(fā)布會現場
 

飛納產品 Jos Maas 回答客戶提問
 

　　發(fā)布會上，飛納推出了第五代產品，也是產品——高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro + SED ，以及可用于 Phenom XL 全自動顯微平臺的優(yōu)中心樣品臺(Eucentric stage)和拉伸臺(Tensile stage)。
 

飛納臺式掃描電鏡高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro + SED
 

　　● 高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro + SED
 

　　飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pro 以其*的背散射成像(BSE)而，如今又在 BSE 基礎上增添了二次電子成像( SED ), SED 首先采用了更優(yōu)化的真空系統減小殘留空氣對電子束的散射，從而提高圖像信噪比，同時可利用更小束斑成像，大幅度提高分辨率。其次采用了更優(yōu)化的燈絲束流控制系統，提高了發(fā)射束流的單色性，降低了成像系統的像差，從而更大程度的減小了束斑尺寸。
 

飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 優(yōu)中心樣品杯
 

　　● 全自動顯微平臺 Phenom XL + 可傾斜旋轉的優(yōu)中心樣品杯
 

　　飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 具有很強的后期可拓展性，其中此次即將發(fā)布的新產品就是針對 Phenom XL 的一個拓展。該優(yōu)中心樣品杯采用了*的設計，它包含了一個可以測試優(yōu)中心傾斜和旋轉的子樣品臺，可以在一分鐘內實現裝卸樣品。優(yōu)中心樣品杯的傾斜和旋轉意義重大，可以從不同角度來觀察樣品，比如測量樣品的深度、高度和厚度特征，檢查鍍層之間或零件之間的連接情況。在能譜元素分析中，傾斜功能也同樣十分有用。不平整樣品可以通過傾斜，使被分析面變得水平，從而提高能譜元素分析的準確度。
 

飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 拉伸臺
 

　　● 全自動顯微平臺 Phenom XL + 拉伸臺
 

　　飛納電鏡此次的新品發(fā)布會上會呈現的第三個產品就是拉伸臺，此產品也是飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL 一項重大拓展。拉伸臺是一種動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段,在材料科學前沿研究中發(fā)揮了重要作用。掃描電鏡原位拉伸臺的zui大特點是,在進行應力—應變力學定量測試的同時, 利用掃描電鏡的強大的景深、高空間分辨和分析功能，在微觀層面上對材料的力學性能進行動態(tài)研究。拉伸臺可以為很多材料做拉伸測試，如金屬材料(研究韌斷過程、應力誘發(fā)相變及塑性變形),高分子材料，陶瓷材料等。飛納臺式掃描電鏡的原位拉伸臺能實現 2N-1000N 的拉力區(qū)間，拉伸速度可實現 0.1mm/min 到 15mm/min，滿足幾乎所有領域樣品的原位拉伸觀測。
 

　　此次新品發(fā)布會延續(xù)了飛納電鏡一貫的“多，快，好，省”原則——“多”，多人，多用，多功能；“快”，快學，快測，快結果；“好”，好準，好穩(wěn)，好管理；“省”，省錢，省心，省空間，同時在目前已有操作簡單(智能化)，分辨率高，信噪比高，整體穩(wěn)定性強，對環(huán)境兼容性大，*防震，后期維護方便等基礎上有更多創(chuàng)新。
 

　　為了讓客戶更便捷更直觀體驗新產品的各項性能，飛納還展出了新產品并由飛納專家現場演示并及時回答客戶提問。
 

飛納電鏡專家給客戶演示新品
 

飛納電鏡專家給客戶演示新品